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| 年度 | 103 |
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| 專利名稱 | 採用自比量尺之測驗系統及其方法 |
| 專利國別 | 中華民國 |
| 發明人 | 宋曜廷 |
| 共同發明人 | |
| 核准證號 | I450231 |
| 屬性 | 本校 |
| 研發單位 | 教育心理與輔導學系 |
| 專利簡介 | 一種採用自比量尺之測驗系統，係包括用於產生具有題目、量尺及位於該量尺上之複數標籤之測驗試題的試題模組，使該複數標籤於該量尺上移動，並依據該題目將各該標籤移動至該量尺上對應之位置的作答模組，以及紀錄各該標籤所對應之位置而成為落點資訊的紀錄模組，其中，該落點資訊係用以比較單一受試者或不同受試者間對該測驗試題之各該標籤之間的關聯性。因此，經測驗後不僅可提供受試者自身或者多位受試者之間對測試結果作分析，同時減少測驗作假情況以及難以分析等習知缺陷。 |
| 專利期限 | 2031-07-11 |
| 技術領域 | 教育科學 |
| 適用產業別 |
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| 技術應用方式與預期產品說明 | 本專立具產業利用性，在心理測驗領域如人格測驗、情意測驗、市場調查等均可應用本技術。 |
| 關鍵字1 | 量尺 |
| 關鍵字2 | 測驗 |
| 關鍵字3 | 題目 |
