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| 年度 | 107 |
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| 專利名稱 | 日射量比對系統與方法 |
| 專利國別 | 中華民國 |
| 發明人 | 呂藝光 |
| 共同發明人 | |
| 核准證號 | I632516 |
| 屬性 | 本校 |
| 研發單位 | 電機工程學系 |
| 專利簡介 | 一種日射量比對系統，其包括複數個日射計、複數個天空影像擷取裝置、複數個溫度感測器、複數個資料傳送裝置、資料庫以及比對處理裝置。複數個日射計水平擺設以取得日射量資訊，複數個天空影像擷取裝置朝向天空以取得天空影像資訊，複數個溫度感測器感測周遭環境以取得溫度資訊，接著傳送日射量資訊、天空影像資訊和溫度資訊至複數個資料傳送裝置，進而傳送其至資料庫儲存和比對處理裝置，比對處理裝置據此演算出比對日射量資訊，並透過比對日射量資訊和比對日射量資訊校正日射量資訊，且可將本發明搭配太陽能發電裝置以預估發電量。 |
| 專利期限 | 2038-01-10 |
| 技術領域 | 電機工程 |
| 適用產業別 |
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| 技術應用方式與預期產品說明 | 本專利具產業利用性，在電機資訊技術領域如太陽能預測系統、電力系統均可應用本技術。 |
| 關鍵字1 | 日射量 |
| 關鍵字2 | 太陽能 |
| 關鍵字3 | 發電 |
