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| 年度 | 107 |
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| 專利名稱 | 超快時間解析數位全像之方法及其裝置 |
| 專利國別 | 中華民國、美國 |
| 發明人 | 鄭超仁 |
| 共同發明人 | 林昱志 |
| 核准證號 | I627517、US10,409,048B2 |
| 屬性 | 本校 |
| 研發單位 | 光電工程研究所 |
| 專利簡介 | 一種超快時間解析數位全像之方法，包括：(a)提供具可調時間間隔之至少兩個光脈衝，於不同時間點到達一待測樣品；(b)透過至少一光學編碼器，進行該樣品之波前的空間編碼；(c)透過一數位全像存取單元，以單次曝光方式記錄波前空間編碼之一合成數位全像；(d)利用一解碼器以取得至少兩個數位全像；(e)利用一壓縮感測或非線性影像回復方法與一波前重建法以取得該樣品之重建波前。 |
| 專利期限 | 2037-12-06 |
| 技術領域 | 光電工程 |
| 適用產業別 |
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| 技術應用方式與預期產品說明 | 生醫影像：細胞癌化分析、細胞藥物注入瞬時反應、細胞分裂胞器瞬時攝影、神經細胞中神經元物質傳導等高速反應。 光照療法：雷射光動力療程透過光敏劑標定癌化細胞的胞器達到破壞細胞、光遺傳學中神經細胞受光刺激後所產生之神經元傳遞現象、雷射手術於生物細胞組織下所造成瞬時燒熔傷害檢測。 工業檢測：光學元件或相關機件於溫濕度變化、應力施加等外在因素下產生之瞬時型變與材料特性變化等檢測。 雷射加工：脈衝雷射對玻璃、金屬、聚合物等相關材料進行泵激照射，其短時間瞬時能量對材料所產生之線性如燒熔、熱效應、衝擊波等反應。 半導體材料與元件: 半導體或介電材料在脈衝雷射刺激下，其超短時間非線性反應(如光學柯爾效應)，可用於設計高速響應光電元件，本專利方法可用於檢測其高速響應之波前變化。 |
| 關鍵字1 | 數位全像 |
| 關鍵字2 | 時間解析 |
