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專利
年度108
專利名稱結構光照明數位全像之方法與裝置
專利國別中華民國、美國
發明人鄭超仁
共同發明人賴信吉
核准證號I655522、US10,613,478B2
屬性本校
研發單位光電工程研究所
專利簡介一種結構光照明數位全像之方法,包括:(a)提供一結構光產生單元與二值化亂數編碼單元,以產生編碼的結構光圖紋;(b)取樣至少二張具相位移圖紋,並合成為單一張帶有編碼的結構光圖紋;(c)形成單一張數位全像片,並進行該單一張數位全像之波前重建;(d)藉由一壓縮感測方法以復原至少二張具相位移圖紋的物體光波;以及(e)進行重疊頻譜分離之重建方法,以獲得具有不同的高頻與低頻帶通頻譜涵蓋範圍之影像。
專利期限2038-05-29
技術領域光電工程
適用產業別
  • 19.電腦、電子產品及光學製品業
技術應用方式與預期產品說明光學元件,如:透明玻璃基板瑕疵檢測、微透鏡陣列的高度檢測、積體電路的膠合平整度檢測、光電元件的瑕疵、油汙、刮痕、裂紋檢測、以及矽基板的孔洞檢測。 積體電路與半導體組件,如:元件線寬、線高、球徑、三維表面形貌、階高標準片、製程疊對、斷差高度、斜率、體積、表面積、振動模態。 微光學元件,如:表面瑕疵檢測、表面粗糙度、表面輪廓、薄膜厚度與平整度、曲率半徑、波前量測、像差分析、折射率分佈。 生醫細胞影像,如:細胞生物學、神經細胞觀測、細胞體積、細胞形態、生物感測器、生物晶片、活體生物細胞檢測與分析、藥物開發與篩檢 手機與面板,如:三維表面形貌、應力與形變、手機鏡頭、瑕疵檢測、油漬、指紋、裂痕、點膠、錫膏、塗布、平整度、粗糙度、拋光。
關鍵字1結構光
關鍵字2數位全像
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