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| 年度 | 106 |
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| 專利名稱 | 一種檢測液晶面板之裝置及其方法 |
| 專利國別 | 中華民國 |
| 發明人 | 鄭超仁 |
| 共同發明人 | 林昱志、杜翰艷 |
| 核准證號 | I588465 |
| 屬性 | 本校 |
| 研發單位 | 光電工程研究所 |
| 專利簡介 | 本發明提供一種時間與空間檢測之檢測方法，主要針對量測液晶面板之全場振幅、相位與偏振調制，透過本發明之離軸式數位全像檢測裝置記錄經由液晶面板繞射之物體光束與參考光束所形成之數位全像干涉條紋，並重建出液晶面板之量化波前資訊而取得完整的振幅、相位與偏振之光調制特性。本發明所提離軸式數位全像檢測裝置，其全像擷取時間僅受限於影像感測器之曝光時間，因而搭配高速電腦處理架構可進行即時全場液晶面板之光學檢測。 |
| 專利期限 | 2035-11-25 |
| 技術領域 | 光電工程 |
| 適用產業別 |
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| 技術應用方式與預期產品說明 | 1. 液晶面板產業: 中小尺寸液晶面板、大型液晶顯示器與電視液晶面板、微型液晶面板等檢測。 2. 半導體產業: 矽晶圓與矽基液晶面板檢測。 3. 儀器設備產業: 自動化光學檢測(AOI)模組與系統。 |
| 關鍵字1 | 液晶面板 |
| 關鍵字2 | 光學檢測 |
