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| 年度 | 105 |
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| 專利名稱 | 影像處理方法 |
| 專利國別 | 中華民國、美國 |
| 發明人 | 鄭超仁 |
| 共同發明人 | 林昱志、賴信吉 |
| 核准證號 | I537876、US10,042,325B2 |
| 屬性 | 本校 |
| 研發單位 | 光電工程研究所 |
| 專利簡介 | 一種影像處理方法用於處理複數個相關於一個物件的全像影像，且該等全像影像是由合成孔徑的技術所產生。該影像處理方法是藉由一個影像處理裝置將該等全像影像分別作傅立葉轉換以產生複數個對應的頻譜，再根據該等頻譜及一個相關於該等頻譜在頻域上的分佈的權重函數，產生一合成頻譜，再將該合成頻譜作反傅立葉轉換，以產生一具有更佳的空間解析度及相位靈敏度的重建全像影像。 |
| 專利期限 | 2036-10-31 |
| 技術領域 | 資訊工程 |
| 適用產業別 |
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| 技術應用方式與預期產品說明 | 光電元件檢測，如：微透鏡陣列的高度檢測、積體電路的膠合平整度檢測、光電元件的瑕疵、油汙、刮痕、裂紋檢測、以及矽基板的孔洞檢測。 生醫影像檢測，如：活體生物細胞檢測與分析、藥物開發與篩檢。 |
| 關鍵字1 | 影像處理 |
| 關鍵字2 | 全像影像 |
